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多功能衍射儀
關(guān)鍵字:
XRD
型號:
DX-2700BH
產(chǎn)品概述:
組合式多功能X射線衍射儀和高分辨率X射線衍射儀廣泛應用于各種材料結(jié)構(gòu)分析的各個領(lǐng)域。分析的材料包括:金屬材料、無機材料、復合材料、有機材料、納米材料、超導材料??梢苑治龅牟牧蠣顟B(tài)包括:粉末樣品、塊狀樣品、薄膜樣品、微區(qū)微量樣品。廣泛應用于粘土礦物、水泥建材、環(huán)境粉塵、化工制品、藥品、石棉、巖礦、聚合物等研究領(lǐng)域。
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技術(shù)參數(shù)產(chǎn)品視頻實驗案例警示/應用提示配件詳情
特征

1、DX系列衍射儀是為材料研究和工業(yè)產(chǎn)品分析設(shè)計的,是常規(guī)分析與特殊目的測量相結(jié)合的完善產(chǎn)品。
  硬件系統(tǒng)和軟件系統(tǒng)的完美結(jié)合,滿足不同應用領(lǐng)域?qū)W者、科研者的需要
  高精度的衍射角度測量系統(tǒng),獲取更準確的測量結(jié)果
  高穩(wěn)定性的X射線發(fā)生器控制系統(tǒng),得到更穩(wěn)定的重復測量精度
  各種功能附件滿足不同測試目的需要
  程序化操作、一體化結(jié)構(gòu)設(shè)計,操作簡便、儀器外型更美觀

2、X射線衍射儀是揭示材料晶體結(jié)構(gòu)和化學信息的一種通用性測試儀器:
  未知樣品中一種和多種物相鑒定
  混合樣品中已知相定量分析
  晶體結(jié)構(gòu)解析(Rietveld結(jié)構(gòu)分析)
  非常規(guī)條件下晶體結(jié)構(gòu)變化(高溫、低溫條件下)
  薄膜樣品分析,包括薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度,電荷密度
  微區(qū)樣品的分析
  金屬材料織構(gòu)、應力分析


選配

 【完善的品質(zhì)與卓越性能的結(jié)合
 DX系列衍射儀除了基本功能外,可快速配置各種附件,具有超強的分析能力
 高精度的機械加工,使附件安裝位置的重現(xiàn)性極大地提高,軟件自動識別相應附件,不需要對光路進行校準,附件安裝實現(xiàn)即插即用,最簡單的操作就可滿足特殊目的測量的需要。

 QQ圖片20190912142314.png    


示例

 【高性能與實用的完美結(jié)合
 基于θ-θ幾何光學設(shè)計,便于樣品的制備和各種附件的安裝
 金屬陶瓷X射線管的應用,極大提高衍射儀運行功率
 封閉正比計數(shù)器,耐用免維護
 硅漂移探測器具有優(yōu)越的角度分辨率和能量分辨率,測量速度提高3倍以上
 豐富的衍射儀附件,滿足不同分析目的需要
 衍射儀各種功能附件自動識別
 模塊化設(shè)計或稱即插即用組件,操作人員不需要校正光學系統(tǒng),就能正確使用衍射儀相應附件

   XRD 3.bmp


數(shù)據(jù)分析

 【數(shù)據(jù)處理軟件包括以下功能】
 基本數(shù)據(jù)處理功能(尋峰、平滑、背景扣除、峰形擬合、峰形放大、譜圖對比、Kα1、α2剝離、衍射線條指標化等);
 無標準樣品快速定量分析
 晶粒尺寸測量
 晶體結(jié)構(gòu)分析(晶胞參數(shù)測量和精修)

   

   XRD 4.bmp XRD 5.bmp

 

 ? 多重繪圖的二維和三維顯示
 衍射峰圖群聚分析
 衍射數(shù)據(jù)半峰寬校正曲線
 衍射數(shù)據(jù)角度偏差校正曲線
 基于Rietveld常規(guī)定量分析
 使用ICDD數(shù)據(jù)庫或是用戶數(shù)據(jù)庫進行物相定性分析
 使用ICDD數(shù)據(jù)庫或是ICSD數(shù)據(jù)庫進行定量分析

 ? 宏觀應力測量和微觀應力計算


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